關(guān)于38S系列熔接機(jī)的估算損耗

　　光纖纖芯的軸向偏移是產(chǎn)生損耗的最重要的一個(gè)因素。

　　藤倉(cāng)熔接機(jī)的熔接損耗估算是基于D.Marcuse對(duì)于軸向偏移所帶來(lái) 損耗的研究成果。如下圖所示，在標(biāo)準(zhǔn)單模光纖的情況下，如果存在0.2μm的軸向偏移的話就會(huì)發(fā)生0.01dB的損耗，如果存在0.4μm的軸向偏移的話，就會(huì)發(fā)生0.03dB的損耗。

　　如果我們使用存在0.2μm偏芯的光纖，通過(guò)包層對(duì)準(zhǔn)的熔接機(jī)進(jìn)行熔接的話， 如下圖所示，左右兩邊的光纖相對(duì)翻轉(zhuǎn)180度可以產(chǎn)生最大的相對(duì)偏芯，也就是在熔接之后的狀態(tài)下最大可以達(dá)到0.4μm的軸向偏移。

　　這種情況下，

　　38S系列熔接機(jī)會(huì)顯示0.03dB的估算損耗，因?yàn)槠渚哂蠾SI(放電圖像判別纖芯位置)功能。

　　27S系列或者21S系列熔接機(jī)會(huì)顯示0.00dB的估算損耗，因?yàn)槭腔诎鼘游恢眠M(jìn)行估算。

　　有的客戶(hù)可能認(rèn)為27S系列或者21S系列熔接機(jī)的損耗要優(yōu)于38S系列熔接機(jī)，其實(shí)這是一種誤解。

　　相反的，38S系列熔接機(jī)更加完善，因?yàn)槿缦聢D所示， 其對(duì)熔接損耗的估算更為準(zhǔn)確。

　　為了避免某些客戶(hù)的誤解，我們可以通過(guò)改變?nèi)劢幽Ｊ絻?nèi)， 損耗估算方式的設(shè)定來(lái)解決，將其更改為(包層+放電圖像)，在熔接完成之后，針對(duì)包層和軸向偏移的兩種估算結(jié)果都會(huì)顯示出來(lái)。

　　當(dāng)然也可以更改為和27S系列或者21S系列相同的，僅使用包層估算的方式。

　　關(guān)于影響38S系列熔接機(jī)估算損耗精度的因素

　　38S系列熔接機(jī)可以通過(guò)放電的圖像來(lái)判斷光纖纖芯的位置， 也就是WSI功能，如下圖所示在放電的過(guò)程中，光纖纖芯周邊的亮度和包層有所不同。

　　熔接機(jī)可以通過(guò)此時(shí)的圖像分析來(lái)判別左右兩側(cè)光纖， 所產(chǎn)生的軸向偏移，從而計(jì)算估算的損耗。

　　因此，38S系列熔接機(jī)損耗的估算方式要優(yōu)于普通的包層對(duì)準(zhǔn)的4馬達(dá)熔接機(jī)，其精度也更高。

　　但是，在實(shí)際施工的過(guò)程中，操作人員在前處理(光纖的清潔，光纖的切割)過(guò)程中的一些失誤，可能會(huì)影響到WSI功能通過(guò)放電圖像來(lái)判斷損耗的精度。

　　異常情況之一：光纖沒(méi)有清潔干凈

　　鑒于我們實(shí)際的工作環(huán)境以及操作人員的習(xí)慣，有時(shí)候光纖的清潔往往會(huì)被忽視，

　　如下圖所示，放電的時(shí)候會(huì)產(chǎn)生很多的異常亮點(diǎn)，也就是大灰塵燃燒。

　　這樣就會(huì)影像估算的精度，最后的估算結(jié)果可能會(huì)很高，但是我們認(rèn)為在發(fā)生這樣大灰塵燃燒的情況下，即使損耗沒(méi)有超標(biāo)，但是光纖的強(qiáng)度可能已經(jīng)受到了損傷，在保證質(zhì)量的前提上，需要重新熔接。

　　異常情況之二：切割質(zhì)量異常

　　光纖的切割質(zhì)量異常包括角度過(guò)大以及端面不良，熔接機(jī)在放電之前會(huì)對(duì)切割質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)，但是有時(shí)候一些不明顯或者是沒(méi)有達(dá)到報(bào)警限值的不良，會(huì)通過(guò)從而進(jìn)行放電，但是在放電的過(guò)程中，不良的位置同樣會(huì)產(chǎn)生亮點(diǎn)，從而影響估算損耗的精度，當(dāng)然這種情況下，熔接損耗即使沒(méi)有所顯示的那樣高，也一定存在異常，我們認(rèn)為同樣需要重新熔接。